圖譜. notice. 武藤. 鐘點. 干貝. 魯尼. 邵陽 ... XPS. 鎊. 縱隊. 芸芸. 金邊. 仙界. policies ... 判讀. Spot. decoration. 乃丈. 体驗. Comparison. 脯. 柯林斯. ... <看更多>
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#1. 從原理到實例教你玩轉XPS
一般以Al、Mg作為X射線的激發源，俗稱靶材。 XPS可用於定性分析以及半定量分析, 一般從XPS圖譜的峰位和峰形獲得樣品表面元素成分 ...
前言： 上一期我们主要分享了XPS的一些最基本的原理以及常规知识， ... 将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ，即得到校正后的峰位（整个过程中XPS谱图强度不变）。
XPS 也被稱作ESCA，這是化學分析用電子能譜學（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）的簡稱。 · XPS能夠檢測到所有原子序數大於等於3的元素（即包括鋰及所有比鋰重 ...
#4. X射線光電子能譜儀 - 科學Online - 國立臺灣大學
X 射線光電子能譜儀(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS) 又稱為化學 ... 藉由量子力學中的自旋軌道分裂(spin-orbit splitting) 來判讀圖譜。 3.
#5. 从基本原理到结果分析，关于XPS你想了解的都在这了 - 清新电源
另外，O1s的XPS图谱也显示了两种不同的O物种，假设分别是O1和O2，它们的结合能和对应的面积也均已知，怎样计算其相对含量。 回答如下：. 同种元素不同价态 ...
#6. X射线光电子能谱仪（XPS） 谱图分析及其注意事项 - BiliBili
由范燕老师为我们带来的XPS光电子能谱仪的图谱分析，技术原理及其注意事项的讲解！ 喜欢的老师同学 ...
#7. 閱讀文章- 精華區NTUCH-HW - 批踢踢實業坊
主要有兩種方式：X光電子能譜（XPS，X-ray photoelectron spectroscopy）與歐傑電子 ... 若元素的氧化態越高，電子的束縛能就越大，而利用這些束縛能在圖譜上的位移， ...
#8. 基础理论丨一文了解XPS（概念、定性定量分析、分析方法、谱 ...
XPS 可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强可获得样品表面元素含量或浓度。
在很多例子中耦合效应被震激效应掩盖和干扰，所以在化学状态分析中， 从谱线裂分所获得的信息必须与其他信息相结合，才能作出可靠的判断。 ? MnF2的Mn3s ...
#10. II 射线光电子能谱(XPS)
一XPS的物理基础. 1. X 射线与物质的相互作用. 为领会表面分析方法XPS(ESCA) 对光电效应和光电发射的了解是必要的当一. 个光子冲击到一原子上时将会发生下列三个事件之 ...
#11. XPS数据分析及应用介绍
根据元素结合能信息，每个元素产生的谱峰在XPS谱图中被定性反映出来 ... 轨道是自旋-轨道分裂的，XPS图谱表现为双峰结构，两个峰的相对强.
#12. xps分析原理– xps圖譜判讀– Tiwyy
xps分析原理– xps圖譜判讀 ... XPS谱图分析,ppt,X射线光电子能谱（XPS）谱图分析XPS谱图中出现的谱线概述光电子线——鉴定元素俄歇线、X射线卫星线、振激线和振离线、 ...
#13. 教你如何确定样品元素组成（附XPS光电子峰和俄歇电子峰峰位 ...
这样做可以较清楚地显示同一峰位及其临近可能出现的元素种类，以便于分析判断．所列元素不包括放射性元素，所列能级基本上不包括价电子能级。 记录全扫描 ...
#14. 过渡元素XPS分析
过渡元素的XPS谱峰结构. Coster Kronig (CK)和超CK过程 g ( )和超过程. 终态弛豫与负化学位移（如Ag Ce）. 终态多重分裂. 终态多重分裂. 多价态及谱峰叠加.
#15. 【转载】【求助】XPS谱图的纵坐标的意义- 分析百问
并且，通常XPS定量为相对定量，在同一图谱中，选定几个元素确定一种元素的相对含量。但是，如果所有的条件都能保持一致，也可以做一系列标准样品进行 ...
#16. xps图谱怎么分析_xps谱图分析实例 - 小冒知识网
xps图谱 怎么分析最新消息，还有xps谱图分析实例，xps图谱可以看出的信息，xps图谱怎么分析价态等内容，告诉大家XPS该怎么用,数据该如何分析等等, ...
#17. C-1 表面分析儀– 2/2 X射線光電子能譜儀& 二次離子質譜儀
X射線光電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectroscope, XPS)又稱化學分析電子能譜儀(Electron Spectroscope for Chemical Analysis, ESCA)，也是必須 ...
#18. 國立台灣師範大學化學系碩士論文
利用程溫脫附儀(TPD)及光電子能譜儀(XPS)來探測硫化氫(H2S) ... 的訊號雜訊比(S/N)，減少雜訊對於圖譜判讀的影響。 (2) 高空間及能譜解析度. 高空間及能譜解析度.
#19. 材料科學與工程學系碩士論文 - 國立交通大學
圖4.12 氨電漿處理前(a)及氨電漿處理後(b)之XPS 圖譜比較. 56. 圖4.13 氨電漿處理後N 1s 之XPS 圖譜 ... 在本研究中，則是利用此儀器來判讀TiO2 的吸收光譜，並且.
#20. xps原理ppt – xps圖譜判讀– Silicorantst
xps原理ppt – xps圖譜判讀. By admins. Shall. Posted on. XPS原理及分析ppt. XPS能谱分析方法及原理-PPT （精） 星级, 22 页暂无目录点击鼠标右键菜单,创建目录暂无 ...
#21. 如何通过XPS来判断Mn元素的价态？ - 材料综合- 材料化学- 小木虫 ...
我有我测的化合物的XPS图谱，我想通过XPS来判断其中Mn锰元素的价态。通过什么公式还是什么方法可以计算出来呢？ 如何通过XPS来判断Mn元素的价态？ 图片123.png ...
#22. 想知道不明污染物為何？該使用什麼檢驗方法(EDX、FTIR)
... 方法也都可以檢測污染物質，只是能力各有其限制，如AES(電子能譜)、AMF(原子力顯微鏡)、TOF-SIMS(飛行式二次離子質譜)、XPS(X射線光電子光譜)…
#23. 拉曼光譜儀分析原理 Raman Spectrometer Principle - Rightek
... Spectrometer )還可以結合其他的材料分析技術，例如；流變儀(Rheometer)、光電子能譜儀)(XPS；x-ray photoelectron spectrometer)，提供樣品化學結構即時資訊。
#24. 【求助】SEM-EDS打点分析的AT%和Weight% 结果(页1) | 蘋果健康 ...
eds判讀- 大家认为SEM-EDS打点分析的AT%和Weight%结果可信度有多大， ... EDS與XPS的相同點：兩者均可以用於元素的定性和定量檢測EDX設備XPS設備EDS與XPS的不同點：1) ...
#25. 表面分析傅立葉轉換紅外線光譜儀FTIR | iST宜特
紅外線光譜Infrared spectroscopy，是藉由樣品分子對不同波長紅外線的吸收所產生的特徵光譜，來進行材質的鑑別及研究。FTIR傅立葉轉換是利用數學的 ...
#26. 使用差示掃描量熱法（DSC）表徵聚合物
聚合物的DSC分析為產品改進和解決問題提供了聚合物表徵和熱性能。
#27. 原子分散之金屬觸媒其鑑定與 - 台灣化學工程學會
徑,為設計更好的觸媒提供合適的結構模可分為X光吸收近邊緣圖譜(X-ray absor- ... STEM技術可以直觀地觀測到單原子在載體用,其他金屬觸媒之XAS 數據判讀方式與.
#28. 磷酸鹽穩定處理污泥中鉻之微細結構分析(I)
物質無法判讀出，可能因鉻濃度太低及環. 境物質過於複雜有關。圖2 及圖3 為污泥 ... 圖譜，在磷酸鹽穩定化後和原始污泥比較 ... 污泥表面Cr 之XPS 圖譜，Cr 之相關XPS.
#29. 奈米複合金屬製備及其對土壤/地下水污染整治應用之研究
XPS. ○ SQUID. ○ Zeta potential / DLS. 水溶液污染物降解之研究. ○ 標的污染物NO3 ... 另將檢測所得之繞射圖譜，運用電腦比對粉末繞射標準聯合委員會.
#30. ᔠᗈᗇЪܛ̝ჺᄞᄃ᎐ਈҖࠎࡁտ
Perkin-Elmer Corporation)判讀能譜峰值，並使用 ... 鎳鎢合金經+1000 mVSCE 之XPS 圖譜，(a) 鎳的結合能，(b) 鎢的結合能，(c) 氧的結合能。
#31. xrd 圖譜判讀– x ray diffraction 原理– Sambamu
2012,08,18 「2012睡眠障礙研討會暨南區睡眠技師季會」– 睡眠圖譜判讀。 ... X 射線光電子能譜學X-ray photoelectron spectroscopy，XPS 1 逢甲大學學生報告ePaper2019 ...
#32. 應用含硫活性碳以活性覆蓋法針對含汞底泥進行溶出抑制研究
圖13、含硫活性碳(SAC)之C1s(上)、 O1s(中)，及S2p(下) XPS微區圖譜……………37 ... (deconvolution)，以便進行後續活性碳表面官能基判讀之工作，並可半定量位於.
#33. ciroc74.pdf - 中華民國燃燒學會
透過釋氫速率之量測及記錄，分析判讀反應之進行變化趨勢，以及反應氣體釋出. 之累積量。 ... CNx 基材系列樣本的XPS N 1s 之高解析圖譜如圖4 所示，所解析出的可能.
#34. 怎样分析xrd图? - 铄思百检测
怎样分析xrd图?铄思百小编现在为大家介绍几种分析xrd图谱的案例。 XRD在材料、化学、生物、地质、医药方面具有广泛运用。它主要应用为物相鉴定、织构 ...
#35. NCU Institutional Repository
透過EIS，XPS和國家同步輻射中心XAS分析，結果歸因於材料中的Fe2-xTixO3奈米微結構， ... 從XRD圖譜特徵峰判讀磷酸鹽層含有Kx+2(PxO3x+1) 化合物。
#36. 化學研究所碩士論文固態核磁共振於沸石Y 經脫鋁及氟化後之 ...
較高時，仍可在XRD 繞射圖譜中觀察到其結構依然保持完好。在反應過後所. 產生的主要化合物為(NH4)3AlF6 ... 不易判讀的話，最好樣品是在高磁場下量測。 ... XPS(45,46).
#37. 表面分析儀器
X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) ... 量分布的電子能量損失圖譜便可產生。 二、結構示意圖 ... 量、動量不滅定律，晶格表面的聲子色散圖譜即可. 適當地求出。
#38. 利用MOFs 製作雙金屬磷化物觸媒進行光催化水分解反應關鍵詞
二）、X 光光電子能譜(XPS)：使用TLS24A 光束線分析 ... 此推測磷化的CoCu 中，CoP 為Co 主要形式，而Cu 部分則訊號較弱，無法直接判讀。 （二）、X 光光電子能譜(XPS) ...
#39. 參加「第128屆AOAC 國際年會」研習食品檢驗科技新知
庫做比對進行判讀，另約500 種農藥檢測項目可透過LC-Q-TOF/MS 針對特定質荷 ... 磁共振儀建立茶葉內代謝物指紋圖譜區分韓國地區之綠茶，結合主成份分析與正.
#40. 電性質分析及其應用於相變化記憶體(PRAM)元件之研究
料判讀之困難度增加，圖十四為不同濃度的Bi 及Sn 的摻雜對電阻性質之影響。 一般而言，摻雜適量的N2 可以 ... Ge 2p（b）Sb 3d（c）Te 3d XPS 圖譜。
#41. 連續X射線譜
X 射线光电子能谱学英文X - ray photoelectron spectroscopy 简称XPS 是一种用於 ... 的辐射就属于轫致辐射谱图从而獲得质量與濃度或分壓相關的圖譜質譜儀由工作原理 ...
#42. 義守大學生物技術與化學工程研究所碩士論文奈米銥修飾之還原 ...
子能譜儀(XPS)、穿透式電子顯微鏡(TEM)、傅利葉紅外線光譜儀. (FTIR)研究材料表面結構研究結果 ... Ir/RGO-405 複合材料之Cls ESCA 圖譜. ... 利用電腦軟體判讀電流.
#43. 前驱体混合比例对CH<sub>3</sub>NH<sub>3</sub>PbI<sub ...
XPS 结果表明，钙钛矿薄膜中前驱体碘甲胺和碘化铅反应不充分，残余驱体聚集在薄膜 ... 为了方便与文献对比，GIXRD图谱的坐标采用衍射矢量表示(q=4πsinθ/λ)，其中：θ是 ...
#44. 電鍍、硫酸銅 - 國際科展
圖37、黑色電鍍表面的XPS 全譜圖與銅的圖譜. 上圖與我們查到的銅XPS 圖形(如下圖)一致， ... 期待同學以後可加強實驗結果的判讀，提出假設，再進一步. 改變實驗條件。
#45. 行政院原子能委員會委託研究計畫研究報告
由於抗菌紡織之XRD 圖形很難判讀出是否含有銀成分，此原因. 可能是纖維上銀含量太低所致，因此我們 ... 含有Ag/SiO2 與Ag/SiO2P 抗菌粉體之Nylon 與PET 的XPS 分析光譜.
#46. 建築材料之溴化阻燃劑調查研究 - 內政部
烯（Extruded Polystyrene, XPS），以延緩或抑制火災的發 ... 特殊的質量數，作一離子層析圖譜，並由其中得出該待測物的滯留時間。相.
#47. High sensitive sensing of catechol and hydroquinone based ...
electron microscope (TEM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The probe ... 伏安法圖譜中使用常見的三電極系統，玻碳電極作為工作電極，Ag / AgCl 和鉑絲.
#48. 層析圖譜的疑難排解
分析管柱快達到壽命. 採用保護管柱或更換新的分析管柱. 1.流速增加. 檢查幫浦，重新設定流速. 2.樣品超載(Overloading). 降低樣品注射量. 3.分析管柱的鍵合相流失.
#49. 红外图谱怎横坐标 - CSDN
csdn已为您找到关于红外图谱怎横坐标相关内容，包含红外图谱怎横坐标相关文档代码介绍、相关教程视频课程，以及相关红外图谱怎横坐标问答内容。为您解决当下相关问题， ...
#50. 水熱法製備鐵酸鉍奈米結構於鎳酸鑭/氧化鋁基板 - 華藝線上圖書館
於X光繞射圖譜(XRD)下可清楚地發現，BiFeO3相會遵循著底下LaNiO3緩衝層的優選 ... 此外，更進一步地運用了X光光電子能譜儀(XPS)以鑑定nanocubes中所包含之元素成分， ...
#51. 微谱技术在制剂全分析中的应用 - CAC会议
XPS. X射线光电子能谱仪. DSC. 差示扫描量热仪. 光谱类测试. FTIR. 傅里叶变换红外光谱仪 ... 4，调试样品和原样进行理化和图谱对比。 ... 2，如何判读相似性.
#52. 推動化學物質登錄審查管理專案計畫
運用審查資料庫功能（建議未來建置），運用相關邏輯程式判讀化學文 ... 其中之一的替代選擇為利用非阻燃式的EPS 與XPS 結合隔熱裝置，達成. 阻燃效果。
#53. 学术干货| 带你揭开电化学阻抗谱的面纱 - 材料牛
五、电化学阻抗谱的实例分析. PPy和PPy/SAS电极材料在0.5mol/L的Na2SO4电解液中，开路电位下的交流阻抗图谱，频率范围是10^(5)~10^(-2)Hz。
#54. 歲出計畫提要及分支計畫概況表 - 中央研究院
<1>供核磁共振光譜儀儀器使用及小分子/大分子圖譜 ... 輻射技術進行XRD、XPS、XAS等研究，以期揭開 ... 敏度、快速判讀、極少扎針的情況下提高檢測血糖.
#55. 109 年度生科司學門發展規劃及成果報告 - 科技部
利用XRD、XPS、Fe K-edge XAS、FTIR、C- nexafs 等多種光. 譜技術，研究DOM/Fe 共沉澱 ... 圖譜，並以包括抗氧化、抗發炎、抑制脂質生成、抑制胰導素.
#56. 經濟部標準檢驗局「質子交換膜電極組加速老化之研究」委辦計 ...
此作者也利用X-Ray photoelectron spectroscopy (XPS)偵測到PTFE 的分解。 ... 從此循環伏安圖譜在相對Ag/AgCl 的參考電位約-0.2~0.2V 間可得氫氣. 還原峰圖形。
#57. April 2020 - 中國土木水利工程學會
NMR 分析圖譜中，由主要的化學位移-82ppm/-83ppm ... XPS 結果顯示，鐵基材的Fe 3d 軌域增強歸因於基材 ... 記錄方式一般採用重合記錄，首先判讀垂直向震.
#58. 工作表1
... ATTEST SUPER RAPID CHALLENGE PACK 41482VF 24PACKS/BX, 3M立即判讀生物指示劑 ... “歐蒙” 免疫螢光法抗核抗體IgG優化圖譜檢測試劑", SET, EUROIMMUN(或同等品) ...
#59. 編號 儀器補助部會 儀器營運單位 儀器名稱(中文) (主項儀器-子 ...
可蒐集小分子及大分子液態核磁共振圖譜。 ... X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS). 半導體材料與元件 ... 特殊項目FISH(特殊檢體別及判讀)：院外研究代檢18000元.
#60. 投影片1 - PDF Free Download
66 化學游離法之缺點所產生之斷裂離子較EI 少圖譜所提供之資訊較少所得到的結果受 ... 1s) 0 1 2 3 4 5 Position/ m AFM 50 nm XPS C-O C=O C-C Height/ nm 1 0-1 (b).
#61. 赛默飞世尔科技微量分光光度计NanoDrop 新应用用NanoDrop ...
图2：图为浓度为6mg/ml 的扑热息痛标准品的吸收光图谱。最大吸收峰. 在244nm 处，所以在此次实验中，我们 ... 中文网站：www.thermofisher.cn www.thermo.com.cn/xps.
#62. 107 年度整體發展經費修正支用計畫書
對功能，並資料庫圖譜可使用輸入化合物關鍵字與特定波峰 ... 一、如Roland XPS-10或同等 ... 1-2具備智能解析，自動判讀監測心律，於VF 與VT 的心律時建議電擊。
#63. 中華民國105 年度總說明 - 國家同步輻射研究中心
BM - (WR-SGM) XPS, UPS ... 於液態溶液中臨場量測不同電壓下的X 光吸收圖譜。該研究結果顯示，四氧化三 ... 之間，所以較難判讀。為了獲得更精確.
#64. 核能研究所2006年年報
可提供臨床醫師更準確、安全的診斷資訊，作為病患的治療及預後判讀之最. 佳決策依據。 ... 質譜術等，找出正常組與疾病組之蛋白差異圖譜，預期二年內完成肝纖維化.
#65. 年會暨學術研討會 - 中華民國地質學會
處理，包括地震波相判讀、逆推定位與規模計算。同時也能夠將歷史地震資料重新導 ... 參數之蓋斯塔圖譜等進行氣苗地化特性分析與對比；並進行油樣的生物指標化合物指.
#66. 无机纳米材料
判读 出纳米材料，在纳米材料应用研究中透射电镜显示出特别重要的地位。 ... 高电子线路的电源部分无噪声源，则XPS 谱仪的S／ N ，将与X 射线通量.
#67. 簡單邁克生干涉計 - Course Hero
... XPS) 又稱為化學分析電子能譜儀 (electron spectroscopy for chemical ... 電子組態，並且藉由量子力學中的自旋軌道分裂 (spin- orbit splitting) 來判讀圖譜。
#68. 2016化學感測器科技研討會大會手冊.pdf
成可以直接裸視判讀分子感測之色變技術，本研 ... contact angle measurements, XPS, and bacterial ... (a)X 光繞射圖譜與(b)比表面積分析圖.
#69. 華岡工程學報第二十三期 - 工學院- 中國文化大學
可顯示出相似的圖譜，但因為結構以及尺寸上的 ... 在高亮度的場合仍能清晰判讀，而且場發射平面 ... 表1 X 光光電子能譜儀(XPS)分析不同處理溫度.
#70. 国家中文核心期刊中国科技论文统计源期刊目次 - 宇航材料工艺
利用XPS测定了HBZS裂解产物中Zr元素含量， ... 图4 HBZS经过不同温度处理后所得陶瓷的XRD图谱对比 ... 检测影像进行对比判读，确保评判的准确性。这些是.
#71. 棍棒– Bigmktu
文章導覽. xps ups 原理– xps圖譜判讀 · 金典獎轉播– nba 轉播. 發佈留言取消回覆. 發佈留言必須填寫的電子郵件地址不會公開。 必填欄位標示為*. 留言. 顯示名稱*.
#72. 附1 2016年政府采购预算
XPS 与成像功能和离子溅射刻蚀相结合，可以用于固体表面元素成分及价态的 ... 的钢筋可以被判读）外部连接：红外打印机，计算机；测量距离：15m（一次 ...
#73. 電子學位論文服務 - 臺北醫學大學
譚柱光，透析病人定期檢驗結果的判讀. ... [57] Fulghum, J.E. Recent developments in high energy and spatial resolution analysis of polymers by XPS.
#74. 國家地震工程研究中心 - 地質科學系
區的情形，衛星影像的利用與判讀是一個優良的解. 決方案。本次地震發生後，國家太空中心之 ... 圖2 經由氨電漿處理後的二氧化矽表面XPS圖譜N1s能階。
#75. 行政院ç'°å¢ƒä¿ è·ç½²ä¹ å 四年度「ç'°ä¿ ç§'技è ...
(280−294 eV), 將C 1s 的圖譜仔細掃描進行解析(deconvolution), 以便進行後續活性. 碳表面官能基判讀之工作, 並可半定量位於活性碳表面可能之碳氫、 碳氧與氫氧.
#76. 推荐性标准项目 - 国家标准化管理委员会
448, 445, 机器状态监测与诊断数据判读与诊断技术第1部分：一般指南 ... 采用本标准，可得到真正的深度剖析结果，且精度高、重复性好，可将XPS、AES深度剖析更好地应用 ...
#77. 2021广西省项目信息汇总
本项目旨在通过转录图谱探究脂肪调控的差异基因，为育种工作提供参考。 ... (2) 通过XRD， XPS， SEM， HRTEM， TPR和原位红外等手段对催化剂表面物种的配位结构及物理 ...
#78. 目录
4）天然产物及中药活性成分、药物筛选和中药指纹图谱研究 ... 选配件——倾斜角分辨XPS模块–惰性气体手套箱用于空气敏感样品安装, 对样品表面进行元素化学状态分析。
#79. 量子力学Quantum Mechanics - 更多>>文档分类
《电子衍射分析员利与图谱》，黄素英，侯耀承著，山东科学技术出版社，2000 年 ... 重点：判读相图. 难点：判读相图 ... 重点：XPS 的基本原理、化学位移、谱峰分裂.
#80. 深度分析 - 仪器信息网
... 俄歇电子能谱（AES）和X射线光电子能谱（XPS），检测速度慢或者价格昂贵。 ... 相关规程；4、无需测量过程中的判读和计算，直接显示裂缝深度；5、仪器采用复位式 ...
#81. Annual Report 2015 - 泰达应用物理研究院- 南开大学
NS5001 免疫层析结果判读记录仪. 天津中新科炬生物制 ... 通过X射线衍射(XRD)图谱、激发光谱(PLE) ... XRD, XPS advance band spectra, the photocatalytic.
#82. 鄂尔多斯市康巴什区政府采购中心竞争性磋商文件 - 电子卖场 ...
应具有自动摄取金标卡反应结果图像和自动判读结果功能； ... 3.1.12、伪彩图谱: ≥8种 ... XPS. 41. 扫描其它性能全彩色扫描仪.
#83. langdata/chi_tra.wordlist at main · tesseract-ocr ... - GitHub
圖譜. notice. 武藤. 鐘點. 干貝. 魯尼. 邵陽 ... XPS. 鎊. 縱隊. 芸芸. 金邊. 仙界. policies ... 判讀. Spot. decoration. 乃丈. 体驗. Comparison. 脯. 柯林斯.
#84. 前言 - 西南交大资产与实验室管理处
3.DMA、拉曼、XPS、核磁共振及Tof-sims 数据处理分析 ... 图谱的绘制与分析。 ... 2. 人工判读一小部分城市空间形态丰富的遥感影像作为训练样本“喂给”神经网络模型； ...
#85. sheet1 - 武汉纺织大学教务处
采用XRD,SEM和XPS等技术对复合材料的微观结构进行表征。 ... 对市场上某中药凉茶饮品进行高效液相图谱分析，全波长扫描分析，针对浓度，含量等数据与不同的中药材详细 ...
#86. 《中国学术期刊文摘》赠阅
用SEM 形貌、XRD 图谱和等温曲线分析其结构，采用三电极体系测试循环伏安曲线和恒流充放电 ... 关键词：石墨烯；化学气相沉积；热处理；拉曼光谱；XPS；原子力显微镜.
#87. 2016年度广东省科学技术奖受理项目清单
①比较研究包括基源、DNA条形码、性状、化学指纹图谱和药理毒理等方面， ... 信息全部丢失，从而得到完整的精确试验信息，做到精密测量、准确判读。
#88. 论文汇编
所开发的口腔种植机器人系统能够实现手术区域解剖结构的判读重现、术 ... 研究方法：从癌症基因组图谱TCGA数据库和人类肿瘤相关基因表达汇编GEO数据库.
#89. Sheet1 - 福州大学·科技处
259, 258, HX2007-43 2007-XY-04, 毛细管电泳技术用于中药指纹图谱的研究 1.50万元 2007-2009年, 建立所研究的重要特征指纹图谱。
#90. cas no_C8H3FN2cas编号查询_CPhI制药在线专业网上贸易平台
提供详细的结构确证图，含量标定图谱，和详细的质量证书（COA）。 ... 分子量：641.73 CAS号：3194-55-6 用途：本产品用作EPS(发泡聚苯乙烯)、XPS挤塑板、聚丙烯纤维和 ...
#91. 科技简报 - 深圳大学
深大讲坛第一百零七讲：大数据分析技术图谱与研究举例. ... X-射线吸收谱（XAS）和X-射线光电子能谱（XPS）证实锰和氮掺杂进入二硫化钼. 晶格中，锰替换了钼，氮替换了 ...
#92. Sheet1 - 郑州大学
催化剂的表征手段主要包括XRD、SEM、TEM、EDS、FTIR、XPS和氮吸附等，降解条件主要 ... 体系，得到菟丝子侵袭过程中大豆茎段蛋白差异表达图谱；利用MALDI-TOF-MS/MS等 ...
#93. 高岭石@@的@@@@xrd特征峰@@值 - bet188平台
附高岭石@@@@、石英@@、滑石@@、萤石@@、蒙脱石@@测试图谱@@高岭石@@高岭石@@@@@@XRD图高岭石@@红外图谱@@高岭石@@热分析@@高岭石@@@@XPS全谱石英@@石英@@@@XRD图 ...
#94. 双面玻璃纤薄4G新品为美Z5预约价899元-百科网 - 移动互联
... 达摩院医疗AI团队研发的CT影像算法,将疑似患者CT影像判读时间从十几 ... 最近这些年，也只有XPS 13 9360 、MagicBook 2018/2019 、MateBook 13 ...
#95. 邱昭文博士製程環境對電阻式切換材料T
absorption spectroscopy (XAS)及X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) ... 性量測的結果上，無論高低阻值的判讀，都有2 個order 以上的差異，在.
#96. 粘土矿物 - 文档网
粘土矿物鉴定与XRD判读_农林牧渔_专业资料。介绍粘土矿物鉴定与XRD判读实验二一、实验目的粘土矿物制片与x 射线衍射图谱的判读土壤粘土矿物是土壤中带电荷粒子之间.
xps圖譜判讀 在 閱讀文章- 精華區NTUCH-HW - 批踢踢實業坊 的推薦與評價
By B98203058 丁柏傑 2011.3.24
編註：這份筆記，是把講義的某些部份變得完整一點，（就是廢話比較多的意思），請隨
時搭配講義的圖使用，感謝！XD
◎本次考試的重點：
（1）學習如何以電子能譜的方法，分析材料表面的性質。主要有兩種方式：X光電子能譜
（XPS，X-ray photoelectron spectroscopy）與歐傑電子能譜（AES，Auger electron
spectroscopy）。
（2）以次級離子質譜（SIMS，secondary-ion mass spectroscopy）為例，說明其在表面
分析上的應用。
一、表面分析簡介：
表面，就是存在於固體與液體、氣體、或真空之間的界面，通常是薄薄一層的厚度。常常
一個材料被作出來之後，我們關注的是它在表面上的物理、化學性質。這些性質可能會因
材料組成不均勻，而與材料內部的塊材部分（bulk material）有差異，所以如果分析方
法會同時測到表面與塊材的訊號時，塊材的訊號對表面分析來說，反而是種干擾。因此，
發展出針對於材料表面的研究方法是重要的。
＊取樣種類：
（1）單點取樣（fixed point）：針對單一區塊做組成分析。
（2）來回取樣（raster pattern）：二維掃描，可提供表面的分布情形。
（3）縱深量測（depth profiling）：在分析時會一邊製造出表面的凹陷，探討組成隨深
度變化的情形。
＊分析環境：
進行表面分析時，通常儀器內部的樣品腔會處在高真空環境下（ultrahigh vacuum）。這
麼做有幾個好處：
（1）可避免環境中的氣體吸附在材料表面上，影響分析的程序與結果。（在10-6 torr下
，將表面覆蓋上一層氣體分子僅需1秒，所以更需要高真空。）
（2）在以電子束做為分析源時，高真空可有效防止電子與其他粒子進行碰撞，而影響其
能量。
＊表面清潔：
要獲得正確的表面資訊的話，在分析之前對材料表面做點清潔，當然有其必要性。
（1）加熱脫附（baking）：將表面吸附的物質，以加熱方式脫附（desorption）。
（2）撞濺（sputtering）：以Ar+之類的離子，將表面附的髒東西撞飛（類似MS中FAB的
離子版本）。
（3）機械式刮除（mechanical scraping）：以鑽石刀在表面上刻劃。
＊分析概念：
在進行表面分析時，一般會將初級束（primary beam）打在材料上，而偵測由材料所反射
出的次級束（secondary beam）。初級束與次級束可能為光子、電子、離子、或中性原子
等，而不同的儀器，便是利用打入不同的初級束，及偵測不同的次級束，來達到表面分析
的目的。一道初級束對材料表面造成的擾動（perturbation），可能會具有多種次級束的
行為（response）；各種表面分析方式，只是選擇其中一種或數種response的特性，進行
表面性質的量測。
二、電子能譜（electron spectroscopy）：
電子能譜，是測量次級束中的電子訊號隨電子能量的變化。底下介紹兩種電子能譜的分析
方式－XPS與AES。
三、X光電子能譜（XPS，X-ray photoelectron spectroscopy）：
XPS，又稱為ESCA（electron spectroscopy for chemical analysis），是利用X光作為
初級束，在材料表面上因光電效應，將原子中的內層電子打出，而XPS儀器就是藉由量測
放出電子的動能，來分析表面的化學特性。
在做XPS時，通常會先對材料表面做一次大範圍的survey scan，以確定表面上有哪些元素
。之後如果要確定某個元素在表面上，是否存在於不同的化學環境時，即可將掃描範圍縮
小至該元素的內層電子束縛能範圍。
＊能譜的長相：
以電子計數（counting rate）對電子的束縛能（binding energy，Eb）作圖。束縛能，
是游離電子所需要的能量，是元素的本性之一，不會隨著分析時入射的X光能量而改變。
一顆電子的束縛能，可以從入射X光的能量與它飛出材料表面的動能之差算出。（能量守
恆）
在XPS能譜上，有兩個特點要注意：
（1）背景訊號，隨著橫坐標的束縛能值增加而快速提升。理由是，每個被X光打出來的電
子，都有機會在脫離材料之前，與其他粒子產生非彈性碰撞而損失動能。因此，被誤認為
具有較高束縛能的電子會越來越多。
（2）測XPS時，也會同時測得歐傑電子（Auger electron）的訊號。理由後述。
＊儀器設計－初級束源（source）：
帶電粒子做加速度運動時，便會產生輻射。如：同步輻射（synchrotron radiation）、X
光管（X-ray tube）等。
（1）X光管：是利用燈絲加熱產生的高能電子，撞擊至特定金屬靶材（metal target）上
，導致電子運動速度改變，進而放出X光。通常這種X光是連續波長分布的，但如果這些高
能電子可以將靶材的內層電子打掉，在內層產生「洞」。此時若靶材原子中的外層電子掉
回內層，就會放出強度極強的X光，稱為X-ray fluorescence。這種X-ray fluorescence
產生的特徵譜線，便被拿來做為X光管光源的放射波長。
（2）改變X光管中的金屬靶材種類，會產生不同X光波長的特徵譜線。
（3）透過其他金屬做為filter，可吸收掉部分靶材所放出的特徵譜線，而只留下單一放
射波長。
＊儀器設計－分析器（analyzer）＆訊號轉換器（tranducer）：
XPS的分析器，可以為磁場式或電場式。作的事情和MS的analyzer很像，都是利用帶電粒
子在電場或磁場中的運動模式，將不同動能的電子做解析。
而訊號轉換器，便是將電子訊號放大。XPS的訊號轉換器，可以用solid-state channel
electron multiplier，為玻璃管所構成，上面摻雜了鉛、釩等金屬。原理類似光電倍增
管。
＊分析上的應用：
由XPS的能譜，可以判知各組成元素的化學位移與氧化態。若元素的氧化態越高，電子的
束縛能就越大，而利用這些束縛能在圖譜上的位移，可以回推分子的化學結構。講義上頭
的四個例子為：
（1）C的1s電子XPS能譜。因為F的電負度很大，把C的電子拉的很緊，所以X光就不容易將
接了F的C 1s電子打掉，其束縛能也就比較高。
（2）確認合成分子接在金表面的比率。A圖為粉末狀樣品的S(2p) XPS，B圖則為合成分子
上鍵結於金表面的S(2p) XPS能譜。由程式運算，可以將胖胖的峰值做解析（
deconvolution），得到S(2p)的束縛能。B圖中，S(2p)的束縛能較A圖中來的小，此乃因
為S與Au鍵結時，S會把Au的電子拉住，導致氧化態下降，束縛能也因此下降。
（3）分析合成聚合物的化學組成。將合成出來的高分子，先做一次大範圍能量的survey
scan，確認該有的元素都有出現在高分子中，再進行小範圍、高解析度的XPS掃描，以確
認合成出來的高分子結構，與理論設計的結構相似。同種元素的不同化學位移，可以透過
curve fitting或deconvolution的方式來獲得。
（4）材料表面元素分布的均勻程度。因為X光的平均自由徑較長（註：平均自由徑為，物
質在兩次碰撞之間所走的距離。平均自由徑越小，代表碰撞的頻率會越高。），所以如果
垂直的將X光打入樣品，可能會拿到離表面太深的電子訊號，這是我們不想要的干擾。在
測量上，可以把樣品旋轉一個角度，使得入射角增加，這樣X光就只能打到淺層部分；而
電子也幾乎從淺層飛出。電子的平均自由徑較短，所以必須減小它在材料內產生非彈性碰
撞的機會，以避免背景訊號的干擾增加。（講義p.10）而藉由旋轉樣品角度，將從樣品不
同部分所取得的訊號做比較，如果比率不變，則代表表面組成均勻度較高（homogeneous
）；反之，若不同區塊的訊號比率，會隨著樣品旋轉角度而改變，則表面組成的均勻度較
低，也可以由這個比率隨角度上升或下降，來推測各種組成的深淺分布情形。
四、歐傑電子能譜（AES，Auger electron spectroscopy）：
首先，用一道初級束（可以為電子束、X光等高能量的初級束）將樣品中原子的內層電子
打飛；此時便會在原子內層產生一個「洞」。AES的現象是指，這個「洞」會被外層電子
「填進來」而放出能量（因為不同層電子的束縛能不同）；這個能量，如果可以使得另外
一顆外層電子掙脫束縛能而飛出去，那麼這個飛出去的電子就被稱做歐傑電子（Auger
electron）。AES，是以量測歐傑電子動能，來回推原子中電子能階的分佈。
＊能譜的長相：
（1）AES的訊號種類，通常以KLL、LMM等三個字母所組成。第一個字母代表「洞」在哪一
層；第二個字母代表哪一層的電子掉回「洞」；第三個字母代表電子掉回內層所產生的能
量，被哪一層的電子吸收。
（2）由於產生歐傑電子的機率不高（有競爭的機制，如：XRF），所以訊號強度不算強，
不能做為一個好的定量工具；又，電子初級束在打到樣品表面時，會產生反彈，導致偵測
器會測得這些反彈電子的背景訊號。在橫坐標的偵測電子能量逐漸提升，背景訊號也會上
升，就是因為測到反彈電子的數量增加。為了解決這種問題，於是在AES中的縱坐標，會
採取一次微分作圖法，將樣品訊號增強。
＊與XPS的比較：
（1）歐傑電子的動能，與入射初級束的能量無關。由於歐傑電子的能量，是單純由外層
電子掉回內層所提供；而XPS中的電子動能，是由入射的X光能量來決定。所以，在初級束
為X光的情況下，如
果要分辨圖譜訊號是來自於XPS電子或是歐傑電子，一個做法是將更換X光管中的金屬靶材
種類，已改變入射X光的波長。若這個訊號在圖譜上的位置不隨靶材種類而改變，則可以
確定這個訊號是來自於歐傑電子。
（2）由於電子－電子交互作用能力，較光子－電子交互作用能力強，所以AES比XPS更適
用於分析低原子序的原子。在高原子序的原子中，電子受到原子核的束縛較小，此時XPS
的X光就能雨電子做較好的交互作用。
（3）在不同的化學環境下，原子中的各層電子能階會受到影響而略有不同，在XPS中便可
分析出這些不同環境下的電子。然而，AES所量測的是不同層電子之間的能階差，所以這
些化學位移有可能在能量相減過程中抵銷掉一部分，使得AES對化學結構與氧化數的差異
，無法像XPS一樣分辨的那麼明顯。但也由於AES的這種性質，使得非分析樣品以外的基質
（matrix），對AES訊號的影響比較小。
（4）由於將電子聚焦，比將光聚焦來得容易許多，所以相較於XPS的X光，AES的初級束可
以確保打在比較小的樣品區塊，作小區塊的分析，而空間的解析度也就會比較高。
（5）由於歐傑電子訊號較XPS電子訊號小，所以比較難提供定量資訊。
＊與XRF（X-ray fluorescence，或縮寫作XFS）的比較：
在外層電子掉回內層的「洞」時，放出的能量會有兩種型式。一種就是被另一顆電子吸收
（AES），另一種有可能的情況就是以光的型式放出，而能量近於X光。這個過程被稱為
XRF。
兩者為競爭機制，而發生的相對速率，取決於原子的原子序大小。原子序越大的，XRF速
率較AES快。
＊儀器設計－初級束源：
AES的初級束源，是一個可打出高能量電子（3~30 keV）的電子槍（electron gun）。這
些高能電子，主要可以藉由兩種方式產生：
（1）加熱燈絲：如鎢絲可產生直徑50 μm的電子束；LaB6可產生直徑10 μm的電子束。
（2）場發射電子源（field-emission）：藉由高電場而產生的電子穿隧效應（
tunneling effect），將高能電子束射出。由於這種方式不需要熱能來促使電子離開固體
表面，所以減少了其分散的寬度，期電子束直徑可小至10 nm，為加熱方式的0.001倍。
＊儀器設計－分析器：
AES仍然是分析電子次級束的動能，所以需要有裝置將不同動能的電子運動分開。兩種方
式如下：
（1）CMA（cylindrical mirror analyzer）：在初級束源的方向上，擺上兩個同心圓柱
，中間施加不同大小的電場。在電子初級束打到樣品產生歐傑電子時，這些歐傑電子會飛
進CMA裡，而藉由選擇CMA中不同的電場，可以選擇特定動能的電子進行偵測。由於電子槍
與CMA擺放的方向是一致的，所以偵測到的歐傑電子比率會提高，訊號較強。
（2）CHA（concentric hemispherical analyzer）：由兩個半圓形的鋼板所組成，設置
在與電子槍不共軸（off-axis）的位置上，在透過在兩鋼板間施加不同電場，達到不同動
能電子分離的效果。CHA附有電子聚焦功能，所以它對於同種動能電子的聚焦能力較CMA好
。可用於XPS、SAM（scanning Auger microscopy）做二維影像偵測。
＊分析上的應用；
（1）定性分析：可做表面元素的定性組成分析。通常會在分析器旁加一個離子槍（ion
gun），做表面清潔與深度分析的工作。
（2）表面的縱深量測：藉旋轉樣品、氬氣離子撞濺、或是機械式刮除表面，以獲得表面
組成隨深度
的變化情形。以Cu-Ni合金的陰極氧化保護為例，如果要分析合金表面是否成功被保護，
可一邊以亞氣離子撞濺表面，一邊偵測Cu-Ni的歐傑電子訊號比率隨時間的變化。如果合
金表面成功地被氧化層所保護，那麼一開始的幾分鐘，就不會產生Cu-Ni的歐傑電子；而
隨著撞濺時間增加，表面的氧化曾被剝除後，暴露出來的合金部份越來越多，測得的歐傑
電子訊號就會越接近原本的塊材訊號。
（3）線性掃描：沿著一條直線針對特定元素作AES，可得到表面上的元素組成隨距離的變
化情形。
（4）二維平面影像：由於電子初級束可以聚焦至很小的直徑範圍（~nm），所以可拿來對
平面作二維來回掃描（raster pattern），可得到表面的粗略影像，此方式稱作掃描式歐
傑顯微術（SAM，scanning Auger microscopy）。空間解析度約為100 nm或更小。
五、次級離子質譜（SIMS，secondary-ion mass spectroscopy）
與質譜離子化方法中的FAB作用原理相似，皆是以高能初級束將表面原子撞離材料，而分
析撞出來的離子。只是SIMS中用來撞濺的初級束，由FAB所使用的高能Ar、Xe原子，改成
Ar+、Cs+、Ga+、N2+、O2+等離子。這些離子打進樣品後，會被樣品中原子的電子所中和
。而撞濺出來的次級離子，則使用質譜儀來分析。
＊離子源的選擇：
（1）對於電負度大的分析物來說，使用Cs+作為離子源的好處在於，在離子源撞進樣品而
變回Cs原子時，很容易再把自己的電子丟給樣品（因為Cs的電負度很小），藉以增加電子
在樣品中傳遞的速率，提高分析效率。反之，對於電負度小的分析物來說，使用O2+離子
則可很快的搶走分析物中的電子（因為O的電負度很大）。
（2）最近的新技術，是使用較大顆的籠簇離子（cluster ions）做為初級束，如：SF5+
、Au3+、Bi3+、C60+等。由於原先使用的離子太小顆，打到樣品時的深度會比較深，對於
表層的資訊取得比較有限，所以才發展出籠簇離子的離子源。籠簇離子中個別原子的的動
能較原子化離子小，只會打穿一點點的表面深度，因此具有比較高的表面游離效率。
＊產生機制－離子碰撞級聯（collision cascade）：
（1）初級離子束撞濺深度可達約 10 nm深。
（2）Sigmund的碰撞級聯理論：入射的粒子會在距表面約3 nm深處，啟動一連串的碰撞級
聯，而能量便在這些碰撞中流轉，最後樣品原子在離開表面之前才會因游離或單一分子解
離而帶上電荷。
（3）在次級離子產生之後，可藉由雷射，再增加其離子化的比率。
＊種類：
（1）靜態 SIMS（static SIMS）：使用低通量的離子初級束，來分析表面一、兩層的元
素組成。
（2）動態 SIMS（dynamic SIMS）：此用較高能量的離子束，用來量測元素組成隨深度變
化的情形。
（3）影像 SIMS（imaging SIMS）：用來分析表面上的影像分布。
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